性和外部影响因素的自然测试和虚拟测试的最佳组合。执行研发技术任务时的要求和程序”是电子产品可靠性和外部影响因素的自然和虚拟测试的最佳组合。“该标准由“Asonika”电子产品虚拟测试领域的软件支持，将允许以最低的成本和最短的时间制造国产电子产品，”该公司新闻服务代表说。

此外，标准化技术委员会 TC 165

本月发布并实施了国家标准 GOST R 70290-2022“电子产品计算机辅助设计系统。术语和定义”、GOST R 70291-2022“电子产品计算机辅助设计系统。电子设备自动化设计系统的组成和结构”、GOST R 70292-2022“电子产品计算机辅助设计系统。用于自动创建电子元件库工作模式图的子系统”和 GOST R 70293-2022“电子产品计算机辅助设计系统。用于自动分析电子设备可靠性指标的子系统”。

俄罗斯 Asonica 研究所总 塞浦路斯 WhatsApp 号码列表 经理兼标准化技术委员会 TC 165“电子计算机辅助设计系统”主席 Alexander Shalumov 指出，在设计电子设备 (EA) 和电子元件基座 (ECB) 时，无法使用外部影响因素 (EIF) 的全尺寸测试，因为 EA 和 ECB 的电路和设计是在生产原型之前创建的。在设计早期阶段对 EIF 的 EA 和 ECB 测试进行虚拟化是唯一的选择。

“如果不使用数学建模，就不可能确定抗

外部因素和可靠性的指标。这种方法很有用，因为借助这种方法，在设计阶段，电子设备和电子元件的大多数可能故障都可以通过电气、热、机械、电磁和其他特 种行之有效的网络安全实践，保护您的数据 性进行跟踪，并且很有效，因为由于电子设备和电子元件的设计缺陷，已经通过全面测试揭示，可以进行多次迭代：项目完成 – 原型测试 – 项目完成等，这大大增加了开发的时间和成本，”他解释说。

并对军事、航天和航空电子设备进行虚拟可靠性测试，创建电子元件运行模式图，但这些测试均基于其企业的标准以及与Asonica软件开发商——Asonica Research Institute LLC 购买电子邮件列表  商定的方法。 “现在全俄罗斯的文件已经出现——GOST，其地位比企业标准更高，”亚历山大·沙鲁莫夫说。

他指出，在原型生产之前的早期设计阶段，

利用电子元器件和电子部件的数学建模和虚拟测试来研究外部影响因素，将有助于避免电子元器件和电子部件在原型测试阶段出现故障或显著减少故障，从而减少原型测试的次数、改进电路和设计的可能迭代次数以及开发电子元器件和电子部件的成本，同时提高质量和可靠性，包括在关键工作模式下的可靠性，从而使电子元器件和电子部件在国内和国际市场上具有竞争力。